反射測量、密度、厚度和粗糙度的檢測對于理解薄膜的光學、物理和化學性質,以及優化薄膜制備工藝,具有重要意義。這些參數在許多應用中都是決定薄膜性能和行為的關鍵因素。
多晶納米級薄膜是一種具有多個晶粒且晶粒尺寸在納米級范圍內的薄膜材料。這種材料在納米科技、材料科學和工程等領域具有廣泛的應用。X射線衍射(XRD)在多晶納米級薄膜的定性分析中可以幫助確定薄膜的晶體結構類型、晶格參數以及存在的晶相。此外,還可以通過XRD分析衍射峰的寬度來估計晶粒尺寸、晶格畸變等因素,以確保對薄膜結構的定性分析準確可靠。
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