我司的鍍層軟件是具備基材校正功能，只要把未電鍍處理的基材測試后作為一個標準數據參與到工作曲線校正中即可以降低基材變化的干擾了。
測量結果可能受到以下因素的影響：
表面準備：鍍層測厚儀對表面的準備要求嚴格，確保表面光潔、無雜質、無腐蝕等。如果表面準備不充分，測量結果可能不準確。
校準：確保測厚儀已經正確校準，以便提供準確的測量結果。定期進行校準是至關重要的。
鍍層結構影響：對于多層鍍層結構，一定要確保鍍層結構與鍍層方法保持一致，即鍍層元素先后順序與方法對應，否則會影響測試結果準確性。
測量技術：使用測厚儀時，請確保正確選擇適當的測量技術和設置，以適應不同類型的鍍層。
測量位點：鍍層測厚的位點面積有限，且不同位點收到鍍層技術影響，會存在不均勻現象，建議實際測試時，取不同位點測試厚度取平均值。
測厚范圍：XRF測試鍍層厚度，對不同結構，有不同理論測試厚度，若實際鍍層樣品厚度超過理論測試厚度，測試結果不具備參考價值。
儀器故障：如果以上步驟都已正確執行，但仍然存在偏差，可能是測厚儀本身存在問題。在這種情況下，檢查儀器并進行維修或更換可能是必要的。
鍍層測厚儀的測試厚度范圍可以因不同的儀器型號和測量技術而有所差異。不同的儀器可能具有不同的測量范圍，以適應不同類型和厚度的涂層。
一般而言，常見的鍍層測厚儀可以覆蓋以下厚度范圍：
金屬涂層：從幾微米（μm）到數百微米（μm）的范圍內。
陶瓷涂層：從幾百納米（nm）到數百微米（μm）的范圍內。
涂料和涂層：從幾十微米（μm）到數百微米（μm）的范圍內。
一些高級的鍍層測厚儀甚至可以覆蓋更廣泛的厚度范圍，包括較薄的涂層和更厚的多層涂層。
鍍層測厚儀所能測量的ZUI小樣品尺寸取決于具體的儀器型號和測量技術。不同的儀器可能有不同的限制，因此ZUI小可測量的樣品尺寸可能有所差異。
通常情況下，對于標準的鍍層測厚儀，其測量探頭或傳感器的直徑或尺寸將決定其最小樣品尺寸。一般而言，測量探頭的直徑或尺寸越小，能夠測量的ZUI小樣品尺寸也會相應更小。
是可以的，如果二元合金，三元合金中均不含有底材或其他鍍層中的元素，便可以測試出其厚度和含量，如果含有，便只能在其百分含量穩定的情況下，得到其厚度值。
以下是保養鍍層測厚儀的一些建議：
存放條件：測厚儀器應存放在干燥、清潔的環境中，避免過高或過低的溫度和濕度，確保準確的測量結果。注意防水防電，避免碰撞。
清潔：當出現臟污時，使用清潔軟布擦拭，避免使用含有酸性或腐蝕性成分的溶劑。
定期校準：按照制造商的建議，定期對測厚儀進行校準。校準可以確保儀器提供準確的測量結果。
防止損壞：避免將測厚儀暴露在劇烈震動、碰撞或過度壓力下，以防止損壞儀器或附件。
大氣重金屬在線分析儀可以連續測量并分析大氣中多種重金屬顆粒物濃度以及顆粒物質量濃度，并有如下應用：
1.大氣質量監測
2.空氣顆粒物特征分析
3.大氣背景測量
4.環境評價、許可
5.污染物定位、溯源與預測預警
我司采樣濾膜和進口濾膜主要材質均為聚四氟乙烯，并無不同之處，濾膜材料我們國內已經做的非常好了。
儀器可以在以下環境下進行工作：主機工作環境溫度0~40℃，主機工作環境濕度20%RH~70%RH。我們建議儀器安裝于配有空調的監測站房內，以保證設備運行更加穩定。
優勢主要包括以下幾個方面：
（1）空氣顆粒物濃度、大氣重金屬濃度一體式協同測量，為污染溯源及源解析提供更精準數據；
（2）TSP、PM10、PM2.5三種切割器可供用戶選擇，應用于不同的環境評價場合；
（3）鉛、鎘、砷等30多種重金屬含量精確測量，最低檢出限在10pg/m3量級；
（4）從光管、探測器、數字多道分析器（DCMA）到整機，數十項XRF核心技術發明專利；
（5）具有國家級技術證書和測試報告，儀器的可靠性、準確性得到充分驗證。
